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影像测量仪三次元温度变化的因素是什么
发布日期:2015-07-06

    影像测量仪三次元温度变化的因素是什么

    三次元温度变化也是产生变形的主要因素。量具、仪器和工件在测量前必须有一段时间在规定的温度范围内等温。测量过程中环境温度波动要小,必须恒定在规定的范围内;尽可能不直接用手接触量具、仪器和工件。在高精度测量时,还需将人与仪器隔离。如接触式干涉仪使用时,需用隔离屏将人的呼吸与仪器隔离,操作时带手套,测量时用导热系数低的木夹子夹带工件。对于高等级的量块、线纹尺陈有很高的环境要求外还要对其温度进行测量并加以修正。

    在比较测量时,由于标准器的温度和膨胀系数与被测件的温度和膨胀系数不一致引起的测量误差.平面形工件采用球面测头,圆柱形工件采用刀口或圆柱测头,因为测量力和接触的形式不同,影像测量仪对接触变形的影响也不同,所以在高精度测量时,必须准确选择测量力和测头工作面半径,并在测量结果中进行接触变形误差修正。

    消除或减少接触变形误差有几种途径: 尽可能采用非接触光学干涉
  (1)在保证测量重复性要求的基础上,尽量减小测量力法、光电瞄准装置或片簧结构装置。
  (2)在比较法测量时,使测量力保持恒定。用重锤形式比弹簧形式更优越。
  (3)寻找合适的测量方法,使选择的标准器材料与被测件相同'其材料的弹性变形也相同,可消除或减少测量结果的接触变形误差。
  (4)工件装夹固定时,尽量减少装夹变形。